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            掃描電子顯微鏡(SEM）
            
						 
            
							 
            功能：結構分析
            
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            儀器型號：FEI Quanta 250 FEG
              
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            發(fā)布人：管理員
              
						 
            
						 
            
							 
            
								 
            
									 
									 詳情 details 
								 
            
								 
            
									 

            1、主要用于直接觀察導電、不導電樣品的表面形貌及成分分析。
            

            2、具有可觀察含水樣品的功能，并能在低真空以及更低真空度的條件下能觀察二次電子像，以滿足研究近似原始狀態(tài)下相關樣品的需求。
            
								 
            
							 
            
							 
            
							 		
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